本產(chǎn)品(光學(xué)元件相干反射計(jì))利用TD-OCT(時(shí)域光學(xué)相干斷層掃描)技術(shù)執(zhí)行光反射分布測(cè)量,并基于邁克爾遜干涉儀原理。來(lái)自低相干光源的光輸出由一個(gè)耦合器分開(kāi),并引入DUT(測(cè)量對(duì)象)和可移動(dòng)鏡。當(dāng)耦合器和DUT之間的距離以及耦合器和可移動(dòng)鏡之間的距離匹配時(shí),每個(gè)反射光返回到耦合器,并發(fā)生干擾。干涉光的強(qiáng)度與DUT的光回波損耗成比例,因此可以知道此時(shí)DUT的光回波損耗。此外,還可以通過(guò)可移動(dòng)鏡位置精確地找出光學(xué)反射位置。通過(guò)使用可移動(dòng)鏡持續(xù)測(cè)量干涉光,可以測(cè)量DUT的光回波損耗分布。
此OCCR 設(shè)備分為Single和Premium版本,OCCR Single 測(cè)試距離為0-20mm,回?fù)p測(cè)試范圍為-10到-85dB,OCCR Multi測(cè)試距離為0-100mm,回?fù)p測(cè)試范圍為-10到-100dB。
功能 |
世界最高等級(jí)超低回波損耗檢測(cè) | -10至-100dB |
精確測(cè)量微裂紋位置 | - 分辨率0.001mm |
高速測(cè)量 | -3秒 |
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